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IC基板引線(xiàn)框架鍍層測厚儀解決方案
更新時(shí)間:2024-05-14   點(diǎn)擊次數:202次

IC基板引線(xiàn)框架鍍層測厚儀解決方案

作為集成電路的芯片載體的引線(xiàn)框架,它起到了和外部導線(xiàn)連接的橋梁作用,絕大部分的半導體集成塊中都需要使用引線(xiàn)框架,是電子信息產(chǎn)業(yè)中重要的基礎材料。封裝基板是Substrate(簡(jiǎn)稱(chēng)SUB)?;蹇蔀樾酒峁╇娺B接、保護、支撐、散熱、組裝等功效,以實(shí)現多引腳化,縮小封裝產(chǎn)品體積、改善電性能及散熱性、超高密度或多芯片模塊化的目的。

IC基板引線(xiàn)框架鍍層測厚儀解決方案

作為芯片封裝的載體和基板,為了保證芯片和引線(xiàn)框架和基板的良好連接,會(huì )在引線(xiàn)框架以及基板上進(jìn)行鍍銀或者化學(xué)鎳鈀金(ENEPIG)的電鍍處理。

ENEPIG工藝,是指在基材表面先鍍化學(xué)鎳然后在鍍鈀和金,Au Pd 的涂層厚度僅為幾納米。為了確保產(chǎn)品品質(zhì),必須要對低至納米的鍍層厚度進(jìn)行測量。

IC基板引線(xiàn)框架鍍層測厚儀解決方案

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深圳市天瑞儀器有限公司

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